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非接觸式3D共聚焦顯微系統

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美國Solarius Pioneer

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新推出的美國Solarius Pioneer 3D共聚焦顯微系統以納米級精度滿足復雜結構表面的各種測試要求,超高性價比。
●納米級高精度,高分辨率
●高質量原始數據
●專利MPD共聚焦核心技術
●符合ISO標準粗糙度測量(同時支持GB/T,DIN,NF,JIS等)
●非接觸式無損光學測量
●超高性價比
●穩定性好,免維護
相關應用:對材料/產品/工件做表面非接觸式三維形貌掃描,分析2D/3D表面形貌、輪廓幾何尺寸(長度、寬度、深度、角度、面積、體積等)、表面粗糙度、平整度、翹曲、曲率、面形精度、摩擦磨損及腐蝕等參數指標。

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